AG-200A 手持式高精度超声波测厚仪操作流程

AG-200A 手持式高精度超声波测厚仪凭借脉冲反射超声波测厚原理，可对多种超声波良导体材料进行厚度测量，广泛应用于石油、化工、冶金等多个领域。为确保测量结果准确可靠，以下为详细操作流程。

一、操作前准备

（1）环境检查：选择无强烈电磁干扰、温度适宜的环境进行测量，避免环境因素影响仪器正常工作。

（2）仪器检查：检查测厚仪外观是否完好，按键、显示屏是否正常。确认电池电量充足，可通过仪器电量指示功能查看，若电量不足需及时更换或充电。

（3）探头选择与安装：根据测量材料、厚度范围及测量需求，选择合适的探头（单晶或双晶探头）。例如，测量 0.14-24mm 厚度范围的材料可选用 DTM15 单晶探头；测量 4-1800mm 厚度的钢材可选用 BD212 双晶探头。将选定的探头正确连接至仪器对应的接口，确保连接牢固。

（4）校准试块准备：准备符合要求的 4mm（钢）校准试块，确保试块表面清洁、无油污、锈蚀及明显划痕，保证校准准确性。

（5）被测件处理：清理被测件测量表面的涂层、油污、锈蚀、灰尘等杂质，确保表面平整光滑，使超声波能顺利传播。对于表面有涂层但需穿透涂层测量的情况，可无需涂层，后续选择对应测量模式即可。

二、仪器校准

（1）打开测厚仪电源，通过语言设置功能选择中文或英文显示界面，根据测量需求切换毫米或英寸单位（公英制转换）。

（2）进入校准模式，仪器支持一点校准、多点校准和手动校准模式，可根据实际情况选择。以常用的一点校准为例：

1. 将探头均匀涂抹耦合剂后，紧密贴合在校准试块的标准测量面上。

2. 待仪器显示稳定后，输入校准试块的标称厚度值（4mm）。

3. 仪器自动完成声速和探头零位的校准，校准完成后可退出校准模式。若选择多点校准，需准备多个不同厚度的标准试块，重复上述步骤依次校准。

4. 校准过程中，若需调整增益，可选择自动增益或手动增益（增益范围 0-80dB），确保回波信号清晰稳定。

三、测量操作

（1）根据被测材料特性、厚度范围及表面情况，选择合适的测量模式：

1. 常规厚度工件测量可选用 MB-E（发射脉冲始波至一次回波）、I-E（界面波至一次回波）、E-E（穿透涂层测量，可选任意 Em–En 回波）或 ME-E（多重回波测量模式）。

2. 测量薄壁材料时，选择 THIN（薄壁测量模式）。

（2）选择数值模式，可根据需求选择厚度值模式、差值 / 缩减率模式。

（3）在探头测量面均匀涂抹耦合剂，将探头垂直贴合于被测件测量位置，确保探头与被测件表面紧密接触，无气泡产生（可通过耦合指示功能确认耦合状态）。

（4）待显示屏数值稳定后，记录测量结果。若需进行 A/B 扫描功能，可切换至 A - 扫描模式或 B - 扫描模式，查看波形并记录相关数据。

（5）对于多层材料测量，可在同一回波下切换显示各层厚度值，依次记录每层厚度数据。

（6）测量过程中，若遇到声波衰减性强的材料，可适当调整增益或选择高频探头（支持 20Mhz 高频探头），以获得清晰的回波信号。

（7）如需测量管道内壁氧化层 / 沉积物厚度或内部腐蚀金属材料厚度，可结合对应的测量模式和探头进行操作。

四、数据存储与导出

（1）测量过程中，如需存储数据，可通过仪器的存储功能将厚度值、A 扫描波形和 B 扫描波形存储至仪器内部，仪器支持大容量存储，可存储 10 万个厚度值。

（2）测量完成后，可通过相关数据接口将存储的数据导出至计算机，便于后续数据分析和存档。

五、操作后整理

（1）关闭测厚仪电源，若长时间不使用，可根据设置选择自动关机（5 分钟、10 分钟、20 分钟可选）或手动关机，以节约电量。

（2）清理探头表面的耦合剂，用干净的软布擦拭干净，避免耦合剂残留影响探头性能。

（3）将测厚仪、探头、校准试块及其他配件整理好，放入包装盒中妥善存放，避免仪器受到碰撞、潮湿等损害。

（4）记录仪器使用情况，包括测量时间、被测件信息、测量结果等，建立使用档案。