TT700超声波测厚仪的两种测量模式（E模式与E—E模式）比较

TT700超薄件超声波测厚仪作为一种高精度测量设备，提供了两种不同的测量模式：E模式（回波-回波模式）和E—E模式（回波-回波增强模式）。这两种模式在实际应用中具有不同的特点与适用场景，本文基于该设备对其原理与使用进行简要对比分析。

在E模式（回波-回波模式）下，仪器通过接收工件上下表面之间的多次回波信号进行厚度计算。该模式适用于表面状况较好、材料均匀的试件，能够有效减少耦合状态对测量结果的影响，提高测量的稳定性和重复性。尤其适用于超薄件测量，低至可测0.15mm（钢），并支持高分辨率显示（0.001mm）。

而E—E模式（回波-回波增强模式）则在E模式的基础上进一步优化信号处理能力，强化了对微弱回波信号的识别与解析。该模式更适用于表面具有涂层、氧化层或轻微腐蚀的工件，可穿越涂层直接测量基材厚度，避免了去除表面覆盖层的麻烦，提升了检测效率。

从使用角度来看，两种模式均支持声速校准和单点校准功能，用户可根据实际材料特性进行设置，且测量结果均具备500组数据存储能力，方便后续分析与追溯。

综上所述，E模式与E—E模式在TT700测厚仪中分别面向不同工况需求：E模式更适用于洁净、均匀材料的精密测量；E—E模式则更好地应对带有覆盖层或表面状态复杂的检测场景。用户可根据实际应用需求灵活选择相应的模式，以实现更准确、高效的厚度测量。